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　　低氣壓試驗(yàn)箱通過(guò)模擬高海拔或真空環(huán)境的氣壓條件，對(duì)產(chǎn)品在低壓環(huán)境下的性能穩(wěn)定性與結(jié)構(gòu)完整性進(jìn)行檢測(cè)，是評(píng)估產(chǎn)品極端環(huán)境適應(yīng)能力的重要工具。其測(cè)試方法需結(jié)合產(chǎn)品特性制定針對(duì)性方案，通過(guò)精準(zhǔn)控制氣壓、溫度等參數(shù)，全面驗(yàn)證產(chǎn)品質(zhì)量。

 

　　低氣壓試驗(yàn)箱在測(cè)試前的參數(shù)設(shè)定是基礎(chǔ)環(huán)節(jié)。需根據(jù)產(chǎn)品實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景確定氣壓值（范圍通常為 1-101kPa）、溫度條件（-70℃至 150℃）及測(cè)試時(shí)長(zhǎng)（1-96 小時(shí)）。例如，針對(duì)高原地區(qū)使用的電子產(chǎn)品，需模擬海拔 5000 米的氣壓（約 54kPa）與 - 30℃的低溫環(huán)境；航空設(shè)備測(cè)試則需設(shè)定 1kPa 以下的低壓，模擬萬(wàn)米以上高空條件。同時(shí)需明確測(cè)試循環(huán)模式，如恒定低壓測(cè)試或 “常壓→低壓→常壓” 的循環(huán)測(cè)試，以評(píng)估產(chǎn)品在氣壓驟變時(shí)的表現(xiàn)。

　　密封性能測(cè)試是核心應(yīng)用場(chǎng)景。電子儀表、密封容器等產(chǎn)品的密封性在低壓環(huán)境下易出現(xiàn)失效，導(dǎo)致內(nèi)部元件受潮或功能異常。低氣壓試驗(yàn)箱在測(cè)試時(shí)將產(chǎn)品置于試驗(yàn)箱內(nèi)，逐步降低氣壓至設(shè)定值并保持 4 小時(shí)，同時(shí)監(jiān)測(cè)箱內(nèi)濕度變化與產(chǎn)品內(nèi)部氣壓。若出現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)部氣壓下降速率超過(guò) 5kPa/h，或內(nèi)部元件出現(xiàn)凝露，需改進(jìn)密封結(jié)構(gòu)（如增加 O 型圈壓縮量）或采用激光焊接工藝提升密封性能。

 

　　結(jié)構(gòu)強(qiáng)度驗(yàn)證需重點(diǎn)關(guān)注。低壓環(huán)境可能導(dǎo)致產(chǎn)品內(nèi)部空腔產(chǎn)生壓力差，引發(fā)殼體變形、部件脫落等問(wèn)題。對(duì)壓力容器、電池殼體等產(chǎn)品，需在低壓條件下進(jìn)行靜態(tài)承壓測(cè)試，通過(guò)應(yīng)變片監(jiān)測(cè)殼體形變數(shù)據(jù)，確保最大形變不超過(guò)設(shè)計(jì)閾值。若出現(xiàn)殼體鼓包或連接件松動(dòng)，需優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)（如增加加強(qiáng)筋）或選用高強(qiáng)度材料（如航空級(jí)鋁合金），提升產(chǎn)品抗氣壓差能力。

 

　　電氣性能測(cè)試不可或缺。低氣壓試驗(yàn)箱的低壓環(huán)境會(huì)影響電子元件的絕緣性能與電弧放電特性，對(duì)繼電器、高壓線束等產(chǎn)品需進(jìn)行電氣參數(shù)監(jiān)測(cè)。在設(shè)定氣壓下，持續(xù)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的絕緣電阻、擊穿電壓及觸點(diǎn)接觸電阻，確保絕緣電阻≥100MΩ，擊穿電壓符合設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。若出現(xiàn)絕緣電阻下降或觸點(diǎn)放電現(xiàn)象，需選用耐低壓的絕緣材料（如聚四氟乙烯），或增加絕緣間距，避免電氣性能失效。

 

　　低氣壓試驗(yàn)箱可全面評(píng)估產(chǎn)品在低壓環(huán)境下的質(zhì)量可靠性，幫助企業(yè)發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷并優(yōu)化改進(jìn)，為產(chǎn)品在高海拔、航空航天等特殊場(chǎng)景的安全應(yīng)用提供有力保障。